海威華芯以半導體物理和器件物理為基礎，工藝和產品特性為導向，結合業界各類相關標準(國軍標、美軍標、JEDEC、AEC-Q等)，依據各類加速模型(溫度加速、電壓加速、電流加速、功率加速等)設計可靠性試驗，采用統計分布(正態、對數正態、Weibull等)預測可靠性水平，為產品、工藝優化提供支撐和改善方向。